С-Сэм использование ультразвукового обнаружения импульса прибора образца внутренних пустот и других дефектов, в основном используется для наблюдения внутренних компонентов провала чип связи, отслоения, трещины, включения, пустоты и как. Режим сканирования? Режим передачи Время измерения (А-сканирование)? Поверхности и поперечное сечение в режиме сканирования (С-Scan)? Продольном разрезе формы визуализации (B-Scan)? Сканирования передач (T-Scan, предел 15 МГц / 30 МГц зонд)