Тестовые задания ※ SEM наблюдения перелома + EDS микроанализа в анализе загрязнения: наблюдение рельефа поверхности металлов, пластмасс, керамики и других твердых материалов, а также измерение небольшого размера. Анализ типа твердых поверхностных элементов, содержащихся в микро содержание каждого элемента и относительного содержания каждого элемента в определенной области распределения. ※ состав поверхности + глубина GD-OES анализ: как может быть анализ матричный компонент, например как твердый материал карбида, также могут быть поверхностными компоненты - глубина анализа, такие как тонкой пленки ПВД, покрытие, термообработка закаленного слоя, покрывающего слоя, анодированного фильма технология поверхностного и химический анализ фильма. ※ Процесс качества Дефект Анализ SEM / EDS Функция: микроскопическая морфология, небольшой размер измерения, микро-компонентный анализ Увеличение :? 5 раз до 30 раз детектора разрешение: ?? 133eV диапазон элементов могут быть проанализированы: Be ( 4) ~ функция U (92) тлеющего разряда спектрометр (GD-OES): ?? тестирование компонентная база, состав поверхности - глубина анализ особенностей: есть состав поверхности продукта с профильным глубина диапазоне глубин: 10-нанометровых ~ 150 мкм ?? Диапазон состав: 10ppm ~ 100%